? 儀器 |
? 探頭 |
? 參考標(biāo)準(zhǔn)試塊 |
要對(duì)材料的腐蝕情況進(jìn)行探測(cè),選擇具有高增益和低漂移特性的儀器,而且在反射(發(fā)射-接收)模式下完成操作。低通濾波器(LPF)也是一個(gè)非常有用的功能,可以減少在使用某些探頭時(shí)或經(jīng)常在高增益設(shè)置中出現(xiàn)的背景噪聲。 |
探頭通常是直徑小于12毫米的反射點(diǎn)/面型探頭,雖然有時(shí)為了覆蓋較大的區(qū)域,也會(huì)使用直徑較大的探頭。特殊的低噪聲、高增益、反射型探頭專門為探測(cè)鋁合金中的腐蝕而設(shè)計(jì)。 |
可以使用一種階梯楔塊型參考標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行校準(zhǔn),這個(gè)參考試塊需具有與被測(cè)區(qū)域相似的電導(dǎo)率和厚度。試塊上厚度減少了10%、20%和30%的階梯為校準(zhǔn)中常用的區(qū)域。 |
圖1 |
圖2 |
圖1顯示的是一個(gè)典型的阻抗平面圖,圖中的坐標(biāo)軸分別為電感抗(XL)和電阻(R)。當(dāng)探頭處于空中時(shí),點(diǎn)位于電導(dǎo)率曲線的頂部,隨著材料電導(dǎo)率的增加,這個(gè)點(diǎn)會(huì)沿著曲線向下移動(dòng),點(diǎn)B的位置為待測(cè)鋁合金的平衡點(diǎn)。 從點(diǎn)B位置開(kāi)始,隨著材料厚度的縮減,點(diǎn)會(huì)沿著厚度曲線向上移動(dòng)。 |
圖2中,我們(通過(guò)相位控制方式)轉(zhuǎn)動(dòng)了一下視圖,將提離信號(hào)變?yōu)樗椒较?,并增加了儀器的增益,目的是只讓矩形框中的區(qū)域占滿儀器的屏幕。如果厚度曲線上的點(diǎn)C位置代表20%的厚度減縮,則當(dāng)探頭移動(dòng)到腐蝕區(qū)域時(shí),圖中的點(diǎn)就會(huì)從點(diǎn)B位置移動(dòng)到點(diǎn)C位置。 |
圖3 |
圖4 |
對(duì)于這類檢測(cè),使用一個(gè)(與被測(cè)材料相同或相似的)參考標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行校準(zhǔn),試塊上需帶有代表5%、10%和20%厚度減薄的區(qū)域,因?yàn)檫@樣可以對(duì)材料中的淺層腐蝕進(jìn)行較好的評(píng)估(參見(jiàn)圖3)。 |
圖4中的阻抗圖表明由厚度減薄引起的出現(xiàn)在厚度曲線上的缺陷指示。腐蝕的評(píng)估通過(guò)比較不同的厚度讀數(shù)而完成。在使用標(biāo)準(zhǔn)試塊完成了校準(zhǔn)后,可能需要為被測(cè)材料重新平衡儀器,因?yàn)樾?zhǔn)試塊和被測(cè)材料的電導(dǎo)率會(huì)有所不同。增益不需要重新調(diào)整。 |
具體的測(cè)量技術(shù)就不展開(kāi)了,如想要了解更多關(guān)于航空航天材料腐蝕的內(nèi)容,歡迎來(lái)電詳詢,021-50473900
關(guān)于量博 | 合作品牌 | 聯(lián)系我們 | 網(wǎng)站地圖
滬公網(wǎng)安備 31011502000213號(hào)
滬ICP備12021537號(hào)-1 ©2012-2024 上海量博實(shí)業(yè)