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在線測量確保薄膜光伏模塊的高效率


在制造薄膜太陽能電池板或鋁箔(例如CIS / CIGS,CdTe)時,準確保持規(guī)定的厚度和成分極限非常重要,因為這會直接影響電池板的效率。 只有使用精確,快速和可靠的在線測量系統(tǒng),才能連續(xù)監(jiān)控生產參數(shù),從而確保涂層工藝的質量。

【遇到的問題】

典型的薄膜光伏(PV)系統(tǒng)由涂覆在玻璃或箔片等基材上的相當復雜的層堆疊組成。 隨著制造商努力開發(fā)低成本,可靠的CdTe / CIS / CIGS產品,他們面臨的一些關鍵的問題是:
? 更高的模塊效率;
? 吸收器層更薄,小于1μm;
? 大面積上一致的吸收膜化學計量和均勻性。

【解決方案】

在這里,成熟的無損測量技術(例如X射線熒光(XRF))有助于提高均勻性和化學計量,從而提高電池效率和產量。 FISCHERSCOPE®X-RAY 5400可對復雜的CIS / CIGS / CdTe系統(tǒng)中的層厚度和成分進行精確的測量,從而在生產過程中的各個階段進行連續(xù)的在線質量控制。
圖.1:FISCHERSCOPE X-RAY 5400的X射線頭(左)和易于更換的保護膜的詳細視圖
圖2:CIGS厚度讀數(shù)和測量距離的變化–藍色點帶有距離補償,紅色點帶有距離補償。
由于X射線頭通過冷卻的標準接口安裝到真空室系統(tǒng),因此它們甚至可以在基板溫度接近500°C的條件下用于生產機械中。
產品在生產過程中可能會發(fā)生移動和鼓起,這會導致樣品和測量頭之間的距離波動。 為了防止偽造的影響,F(xiàn)ISCHER的WinFTM®軟件使用了已測量的XRF光譜中已包含的信息,無需任何運動部件即可實現(xiàn)可靠的距離補償,從而避免了使用輔助距離傳感器。
激活距離補償功能后,可以在不顯著影響測量讀數(shù)的情況下將測量距離*多更改+/- 5 mm。
使用XRF技術可以準確,精確地監(jiān)控薄膜太陽能電池的生產質量。 FISCHER特別設計的在線X射線測量頭FISCHERSCOPE®X-RAY 5400還可以滿足現(xiàn)場生產環(huán)境的所有堅固性要求。 有關更多信息,請聯(lián)系上海量博實業(yè)有限公式,021-50473900。
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