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FLIR T500系列專業(yè)紅外熱像儀在電子行業(yè)的應用


【面臨問題】:

隨著電子產(chǎn)品尺寸日益縮小,常見的表面貼裝式PCBA部件的尺寸范圍可從0603(1.6 mm×0.8 mm)到*小的0201(0.6 mm×0.3 mm)。為準確測量這些部件的溫度,至少需要待測目標占據(jù)3×3像素區(qū)域(或總共9個像素),如果想要實現(xiàn)更高的測量精度,那么10×10或者更大的像素區(qū)域?qū)⑹歉硐氲倪x擇。

【原有的方法】:

通過使用紅外熱像儀和鏡頭的組合,使其空間分辨率會更加精細。但是功能會比較局限。針對小型部件的熱點檢測、溫度測量及對其熱反應的準確描述需要在測試時充分放大,通常以加配微距鏡頭的方式來實現(xiàn)測試所需的光斑尺寸。雖然購買數(shù)個備用鏡頭有助于獲取更高質(zhì)量的圖像,但終究不是性價比之選。

PCBA熱成像與宏觀模式

【現(xiàn)有測試方案】:

通過微距模式,您無需更換鏡頭(圖 2)即可獲得小型目標的準確溫度值。配備標準24?鏡頭和微距模式的FLIR 紅外熱像儀可以輕松達到71μm的光斑尺寸,且無需更換鏡頭。在此條件下,該款熱像儀能夠針對尺寸為1.6 mm×0.8 mm的0603部件進行準確的溫度測量以及紅外熱成像。它甚至可以檢測尺寸為0.6 mm×0.3 mm的發(fā)熱或性能欠佳部件。

啟用了微距模式的FLIR T540相機拍攝的PCBA圖像。相機以微距模式在76°C測量目標熱點。
PCBA成像與FLIR T540相機沒有微距模式啟用。相機在沒有微距模式的情況下,在74°C下對目標熱點進行測量。
傳統(tǒng)的微距鏡頭受限于較短的工作距離,從而無法廣泛應用。由于一些PCBA上存在較凸出的部件,要將紅外熱像儀盡量靠近并聚焦在較短的部件上則會顯得比較困難。 通過FLIR的微距模式,用戶可以將紅外熱像儀放置在可正常檢測的距離上,同時還能提供較小的光斑尺寸。例如,配備24?鏡頭的FLIR T540紅外熱像儀需要距離其檢測目標至少150 mm才能夠捕捉聚焦的圖像。在這個距離上,其光斑尺寸被限制在140μm。如果改用微距模式,則可以減少紅外熱像儀與其檢測目標之間需要留出的*短距離,使您能夠快速聚焦表面貼裝式部件以及其他小型器件。啟用微距模式的同類熱像儀可以從60 mm的距離提供清晰的圖像,并能實現(xiàn)71μm的光斑尺寸,且無需更換鏡頭。
微距模式通過在校準過程中調(diào)整探測器的位置來發(fā)揮作用,從而提供探測器和鏡頭之間額外的工作距離。通過升級固件版本啟用微距模式后,紅外熱像儀的圖形用戶界面(GUI)的“圖像模式”菜單新增“微距”選項。然而,由于紅外熱圖像的焦距和清晰度依賴于探測器位置的調(diào)整,MSX圖像的可見光輪廓將會出現(xiàn)偏移。受此影響,使用微距模式的紅外熱像儀僅能存儲紅外圖像。
FLIR的微距模式是一項新的功能,能夠幫助研發(fā)、質(zhì)量保證以及其他專業(yè)人員實現(xiàn)PCBA及其他電子產(chǎn)品部件測試的靈活性,而無需購置額外鏡頭。標準24?鏡頭可以用于檢測更大范圍或者整個PCBA。一旦發(fā)現(xiàn)熱點或者更小范圍的待測區(qū)域,啟用微距模式可以實現(xiàn)更深入的檢測及熱成像分析,且無需更換鏡頭。聯(lián)系FLIR客服人員了解更多關(guān)于微距模式是如何簡化電氣測試流程的信息。


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