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ICP-MS 德國(guó)SPECTRO質(zhì)譜儀

SPECTRO MS是馬陶赫-赫爾佐格型雙聚焦扇形場(chǎng)ICP-MS(ICP質(zhì)譜儀),擁有新開發(fā)的離子光學(xué)和檢測(cè)器技術(shù)。

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Spectro MS質(zhì)譜儀英文名稱

1974年,ICP發(fā)射光譜儀開始將以電感耦合等離子體(ICP)作為激發(fā)源的分析儀器開始商業(yè)化使用。 ICP質(zhì)譜儀始于1983年; 他們迅速建立了自己的市場(chǎng)地位。 靈敏度的提高和干擾的減少已導(dǎo)致更準(zhǔn)確的分析結(jié)果。 如今,許多元素的檢出限很低,以致只能在潔凈室中才能達(dá)到,而且實(shí)際上常常受到天然雜質(zhì)的限制。

通過(guò)其新的SPECTRO MS ICP質(zhì)譜儀,SPECTRO證明了即使采用當(dāng)今的高水平技術(shù),發(fā)展中的量子躍進(jìn)也是可能的; 給世界各地的用戶帶來(lái)可觀的優(yōu)勢(shì)。 它是目前市場(chǎng)上現(xiàn)有的能夠全譜同時(shí)分析通過(guò)檢測(cè)器的不變離子束,可分析從+6Li到238U的無(wú)機(jī)質(zhì)譜ICP-MS儀器。ICP質(zhì)譜儀的能力達(dá)到了新標(biāo)準(zhǔn),這是從順序測(cè)量到同步測(cè)量的基本步驟。 不僅提高了精度和準(zhǔn)確性,而且每個(gè)樣品的測(cè)量時(shí)間也大大減少了。

ICP-MS質(zhì)譜儀外觀圖

? 具有高度靈活性的ICP-MS

使用SPECTRO MS ICP MS,完整質(zhì)譜的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存在方法開發(fā)方面實(shí)現(xiàn)高度的靈活性,使得日后再鑒定樣品中元素成為可能,即使樣品已不再存在。

? 具備同位素分析能力的ICP-MS

SPECTRO MS是德國(guó)斯派克公司,不僅能同步測(cè)定元素成分,也能測(cè)定從鋰到鈾等整個(gè)質(zhì)量范圍同位數(shù)比值的ICP-MS(ICP質(zhì)譜儀)。同步的測(cè)量可帶來(lái)明顯提高的準(zhǔn)確度,從而開發(fā)新的應(yīng)用領(lǐng)域。

? 效率Lin先的ICP-MS

高樣品處理量是每一臺(tái)分析儀器盈利能力的關(guān)鍵。SPECTRO MS ICP MS為全譜同時(shí)分析、簡(jiǎn)便操作和高可靠性設(shè)定新標(biāo)準(zhǔn)。

? 準(zhǔn)確且準(zhǔn)確的ICP-MS

通過(guò)G3離子探測(cè)器的驚人讀出能力,SPECTRO MS ICP MS儀器獲得優(yōu)秀的檢出限、準(zhǔn)確度和準(zhǔn)確度。

應(yīng)用

出色的性能,大大減少的測(cè)量時(shí)間,以及用于無(wú)人值守操作的附件和自動(dòng)設(shè)備連接的廣泛可能性; SPECTRO MS專為苛刻的分析應(yīng)用而設(shè)計(jì)。 典型的使用領(lǐng)域可以在例如學(xué)術(shù)和工業(yè)研究實(shí)驗(yàn)室,地質(zhì)學(xué),采礦和金屬工業(yè)以及農(nóng)業(yè)和營(yíng)養(yǎng)學(xué)中找到。 此外,在環(huán)境領(lǐng)域,化學(xué),石化和核工業(yè)的公司,臨床,生物和制藥設(shè)施以及半導(dǎo)體制造期間,ICP質(zhì)譜法還有其他經(jīng)典任務(wù)。 尤其是鑒于各種分離技術(shù)的結(jié)合的迅速發(fā)展,正在不斷開發(fā)新的應(yīng)用領(lǐng)域。 SPECTRO MS是其中許多解決方案的解決方案。
● 具有新開發(fā)的離子光學(xué)和開創(chuàng)性檢測(cè)器技術(shù)的雙聚焦扇形場(chǎng)質(zhì)譜儀
● 同時(shí)測(cè)量完整的無(wú)機(jī)質(zhì)譜圖,以提高靈敏度和精度,并獲得很高的樣品通量
● 強(qiáng)大的干式真空系統(tǒng)和零維護(hù),自由運(yùn)行的發(fā)電機(jī)
● 快速指紋識(shí)別,實(shí)時(shí)內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)化以及瞬態(tài)信號(hào),同位素比率和同位素稀釋的測(cè)量
● 用于連續(xù)好狀態(tài)運(yùn)行的ICAL系統(tǒng)邏輯
● 兼容EPA,F(xiàn)DA,CLP和21 CFR Part 11以及其他標(biāo)準(zhǔn)和準(zhǔn)則

ICP-MS質(zhì)譜檢測(cè)原理圖

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