功能齊全的里氏硬度檢測(cè)儀適用于重型、大型或已安裝部件的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。堅(jiān)固的觸摸屏設(shè)計(jì)提供卓越的用戶體驗(yàn)以及高質(zhì)量的測(cè)量和數(shù)據(jù)分析。增強(qiáng)的軟件功能和分析功能。
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Leeb 測(cè)量原理 – 由 Proceq 發(fā)明 |
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Leeb 硬度原理基于動(dòng)態(tài)（回彈）法。帶堅(jiān)硬金屬壓頭的沖擊體由彈簧向檢測(cè)件表面推進(jìn)。當(dāng)沖擊體沖擊測(cè)試表面時(shí)，表面出現(xiàn)變形，從而導(dǎo)致動(dòng)能損耗。當(dāng)沖擊體在檢測(cè)的沖擊和反彈階段分別距離表面特定距離時(shí)，能量損失通過(guò)對(duì)比速度 vi 和 vr進(jìn)行檢測(cè)。 通過(guò)沖擊體中的永久磁鐵在準(zhǔn)確定位于沖擊裝置的繞組中產(chǎn)生感應(yīng)電壓來(lái)測(cè)量速度。檢測(cè)到的電壓與沖擊體的速度成正比。然后信號(hào)處理會(huì)給出硬度讀數(shù)。 |
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優(yōu)勢(shì) |
● 可使用完整的 Leeb 探頭包，并與 Portable Rockwell 和 UCI 相結(jié)合 ● 具有所有 Equotip 產(chǎn)品倍受肯定的高精度 ● 內(nèi)置強(qiáng)大的報(bào)告功能，隨時(shí)準(zhǔn)備好可用的數(shù)據(jù)資料 |
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默認(rèn)單位 |
HL |
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可用單位 |
HB，HV，HRA，HRB，HRC，HS，MPA |
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可用探頭 |
Leeb D / DC / DL / S / E / G / C |
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與其他方法相結(jié)合 |
Portable Rockwell，UCI |
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平均粗糙度
Ra (μm / μinch)
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7 / 275 (Leeb G) |
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*小質(zhì)量
(kg/lbs)
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0.02 / 0.045 (Leeb C) |
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*小厚度
(mm/inch)
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1 / 0.04 (Leeb C) |
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功能 |
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應(yīng)用 |
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儀器固件 |
? 沖擊方向自動(dòng)修正 ? 個(gè)性化用戶資料和視圖 ? 集成至自動(dòng)測(cè)試環(huán)境中（包括遠(yuǎn)程控制） ? 支持 11 種語(yǔ)言和時(shí)區(qū) |
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標(biāo)準(zhǔn)到大對(duì)象 |
√ |
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PC軟件 |
Equotip Link 可提供直接報(bào)告和自定義報(bào)告 |
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圓形對(duì)象 |
與支撐環(huán)結(jié)合使用 |
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顯示屏 |
7“帶雙核處理器的彩色堅(jiān)固的觸摸屏裝置（800×480像素） |
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輕薄對(duì)象（＜2Kg） |
帶有沖擊裝置 Leeb C |
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內(nèi)存 |
內(nèi)置 8 GB 閃存（> 1000000 個(gè)測(cè)量值） |
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非常堅(jiān)硬的對(duì)象 |
帶有沖擊裝置 Leeb S 和 E |
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連接 |
USB 主機(jī)/設(shè)備和以太網(wǎng) |
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鑄件 |
帶有沖擊裝置 Leeb G 和 D |
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測(cè)量范圍 |
150 – 950 HL |
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拋光的對(duì)象 |
帶有沖擊裝置 Leeb C |
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測(cè)量精度 |
± 4 HL（800 HL 時(shí)為 0.5%） |
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不易接觸 |
帶有沖擊裝置 Leeb DC 和 DL |
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細(xì)小對(duì)象（＜5mm） |
x |
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熱處理表面 |
√ |
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其他應(yīng)用 |
● 適合物聯(lián)網(wǎng) (IoT) 和工業(yè) 4.0 環(huán)境 ● 法蘭, 發(fā)動(dòng)機(jī)組, 軸, 齒輪, 起落架, 紙卷檢測(cè), 線圈, 鋼筋, 管道與熱處理 |
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標(biāo)準(zhǔn)化 |
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標(biāo)準(zhǔn) |
準(zhǔn)則 |
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● ASTM A 956 ● ASTM E 140 ● ASTM A 370 ● ISO 16859 ● DIN 50156 ● GB/T 17394 ● JB/T 9378 |
● ASME CRTD-91 ● DGZfP 準(zhǔn)則 MC 1 ● VDI / VDE 準(zhǔn)則 2616 文件 1 ● Nordtest 技術(shù)報(bào)告 424-1, 424-2, 424-3 |
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配件 |
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測(cè)量配件 |
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● Equotip Leeb 沖擊裝置 D (356 00 100) ● Equotip Leeb 沖擊裝置 E (356 00 400) ● Equotip Leeb 沖擊裝置 G (356 00 300) ● 適用于 D/DC/D+15/C/E/S 的支撐環(huán)組（12 件裝） (353 03 000) ● 電池組 (327 01 033) ● Equotip Leeb 沖擊裝置 S ● Equotip Leeb 沖擊裝置 DL ● 快速充電器（外置）(327 01 053) ● 特殊二合一套件: Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D 套件 (356 10 021), Equotip 550 Leeb D & UCI 套件 (356 10 022) |
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驗(yàn)證工具 |
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● Equotip 測(cè)試塊 E，<810 HLE / ~63 HRC (357 14 400) ● Equotip 測(cè)試塊 G，~570 HLG / ~340 HB (357 32 300) ● Equotip 測(cè)試塊 D/DC，<775 HLD / ~56 HRC (357 13 100) ● Equotip 測(cè)試塊 D/DC，~775 HLD / ~56 HRC，Proceq 出廠 |
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