幾十年來,F(xiàn)ischer一直代表著*高質(zhì)量和精度的測(cè)試儀器。他們把在測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域積累的技術(shù)訣竅不僅用于測(cè)試儀器的制造,還用于測(cè)試儀器校準(zhǔn)等相關(guān)服務(wù)。
校準(zhǔn)常見問題 |
涂層測(cè)厚儀的校準(zhǔn) |
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Q: 比較測(cè)量值時(shí)應(yīng)考慮哪些統(tǒng)計(jì)參數(shù)? A: 以下參數(shù)對(duì)于比較測(cè)量值很重要:算術(shù)平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、單個(gè)測(cè)量值的數(shù)量。 如果沒有相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)偏差和測(cè)量的數(shù)量,則無法以有意義的方式相互比較平均值。 Q: 為什么需要校準(zhǔn)? A: 每種物理測(cè)量方法都受涂層和基體參數(shù)的影響。這些參數(shù)是:工件的幾何形狀、電導(dǎo)率、磁化率、鍍層密度、測(cè)量表面等。 每次涂層或基材的這些參數(shù)發(fā)生變化時(shí),都需要重新校準(zhǔn)測(cè)量?jī)x器。 Q: 我正在一塊平板上校準(zhǔn)我的測(cè)量?jī)x器?,F(xiàn)在我想測(cè)量一個(gè)小直徑的曲面樣品。在不進(jìn)行任何進(jìn)一步校準(zhǔn)的情況下,是否可以繼續(xù)? A: 不行,在平板上的校準(zhǔn)會(huì)在曲面上引起系統(tǒng)上的測(cè)量誤差。這意味著測(cè)量值將過大。這是因?yàn)閮x器對(duì)樣品(這里是曲面物體)的測(cè)量信號(hào)進(jìn)行了評(píng)估,但是以平面樣品進(jìn)行的評(píng)估。 Q: 為什么雙方會(huì)得到不同的測(cè)量結(jié)果?原因是什么? A: 計(jì)量器具的精度由校準(zhǔn)片保證。校準(zhǔn)須在真實(shí)、無涂層的樣品上進(jìn)行。此外,須注意在相同的測(cè)量位置進(jìn)行測(cè)量。為了得到一個(gè)有效的平均值,進(jìn)行足夠多次的測(cè)量也是很重要的。 Q: 如何驗(yàn)證干膜測(cè)厚儀測(cè)試的校準(zhǔn)效果? A:通過把校準(zhǔn)箔放在樣品基材上進(jìn)行測(cè)量來檢查校準(zhǔn)效果。這個(gè)測(cè)量位置須要與你之后要測(cè)量的位置相同。Fischer隨機(jī)配備的基材校準(zhǔn)板并不適用于此目的。 |
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